产品及服务

表面分析和研究的原子力显微镜

Park原子力显微镜提供从研究实验室专用的实惠智能原子力显微镜到高效多样的全系列研究型原子力显微镜产品。此外,产品线还包括全自动原子力显微镜和专用高真空原子力显微镜。

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Park Systems 原子力显微镜的独特优势

Park原子力显微镜共享一套尖端技术的核心套件,确保所有产品均具有卓越的性能。其横向和垂直扫描器的解耦AFM系统架构提供了无与伦比的准确性,保证图像无失真。真正的非接触技术既保护探针又保护样品的完整性,同时保持高分辨率扫描。机械和软件架构的用户友好设计简化了探针和样品的装载,确保轻松访问样品、快速接近样品表面以及高效地搜索感兴趣的区域。此外,集成了Smart Scan这一基于AI的操作系统,简化了AFM的操作,使初学者和专家都能轻松导航。这些先进功能的结合定义了所有Park原子力显微镜所固有的可靠性、精度和易用性。

Park交叉串扰消除技术。

Park AFM能够产生您可信赖、可复制并可在最高纳米分辨率下发布的数据。它采用全球唯一的True Non-Contact™ AFM技术,
在保护样品的同时延长探针寿命,并配备基于柔性结构的独立XY和Z扫描器,实现无与伦比的准确性和分辨率。

通过交叉串扰消除实现精确的XY扫描

Park与其最接近的竞争对手之间的根本区别在于扫描器架构。Park独特的基于柔性结构的独立XY扫描器和Z扫描器设计,通过NX AFM电子控制器驱动的NX AFM扫描头(Z扫描器),在纳米分辨率下实现了无与伦比的数据准确性。

  1. 两个独立的、闭环XY和Z柔性扫描器
  2. 低残余弓形的平坦和正交XY扫描
  3. 无需任何软件处理即可进行准确的高度测量

具有低噪声Z探测器的精确AFM形貌图

Park AFM配备了该领域最有效的低噪声Z探测器,在较大带宽下的噪声为0.02 nm。这产生了高度准确的样品形貌图,并且没有边缘过冲。这只是Park AFM为您节省时间并提供更好数据的众多方式之一。

低噪声Z探测器精确测量样品形貌

  1. 使用低噪声Z探测器信号进行形貌测量
  2. 在大带宽上具有0.02 nm的低Z探测器噪声
  3. 前后边缘不存在过冲
  4. 仅需在工厂进行一次校准

通过True Non-Contact™模式实现最佳的探针寿命、
分辨率和样品保护

True Non-Contact™模式是Park AFM系统独有的扫描模式,它通过在扫描过程中防止探针与样品之间发生破坏性相互作用,
从而生成高分辨率和准确的数据。