FX40 with monitor

Park NX20 300mm

用于300毫米晶圆测量和分析的自动化纳米计量工具

Park NX20 300mm是业界创新型大样品原子力显微镜,支持300mm×300mm全程机动化。新升级的Park NX20系统专为失效分析和质量控制实验室设计,可有效地检测整个300mm晶圆,且无需任何繁琐的样品位移。尽管扩大了支持300mm样品的机动XY工作台,但Park的创新性振动隔离技术仍然能够将系统噪声保持在低于0.5 (Å) RMS,通常是0.3 Å RMS的水平。 经检验的原子力显微镜性能和单击-原子力显微镜自动化取消了样本调整的需求,并使Park NX20的扫描过程尽可能高效和便于使用。通过我们的“批处理模式(Program Mode)”界面,用户可以在整个300mmx300mm区域轻松实现可靠与可重复的顺序多站点测量。NX20 300 mm从而成为需要扫描大样品的FA、QA和QC工程师的理想选择。

可用于 300mm晶片圆测量和分析的高端自动化纳米测量工具

专为大样品晶圆检测而建

NX20 300 mm进行了全新设计,可达到大样品的高精度测量。整个300mm晶圆区域可进行低噪声原子力显微镜测量分析。这开启了一个全新的自动化测量范围,让工程师可以更快捷、更简便、更精准地开展工作。

因其便捷的易用性和自动化以及不受影响的精度,NX20已是FA、QA和QC工程师的理想选择。凭借其支持300mm电动XY轴工作台的扩大平台,NX20 300mm更上一层楼,允许用户轻松地以较高的精度检测更大的样品。

NX20 支持300mm样品台,性能已被证实

Park NX20配备了我们的SmartScan操作系统,是市场上易使用的原子力显微镜。通过直观且强大的界面,即便是未经培训的用户无需协助也可快速扫描大样品。这使高级工程师能够集中精力解决更大的问题和开发更好的解决方案。

Park SmartScan™让精准测量更为简单

NX20 300mm为众多应用提供自动格式的原子力显微镜测量,为纳米级的样品提供精准测量和分析。具有粗糙度、高度和深度测量,缺陷检查,电气和磁故障分析,热性能表征和纳米力学性能成像等能力,该原子力显微镜是检测大样品的FA、QA和QC工程师执行各种任务的理想选择。

针对广泛应用性进行优化

主要功能

无与伦比的精度和高分辨率成像,行业领先的低噪音

Park NX20 以最高的纳米分辨率生成您可以信赖、复制和发布的数据。它配备了领域内最有效的低噪音 Z 探测器,在大带宽下噪音仅为 0.02 nm。这产生了高度精确的样品地形图,并且没有边缘过冲。这只是 Park NX20 为您节省时间并提供更好数据的众多方式之一。

大样品应用的全面 AFM 模式

Park NX20 精心设计以满足大样品多样化计量和分析应用的需求。它以其全面的模式范围脱颖而出,为各个领域的研究人员提供广泛的工具包。从标准成像到电化学分析,该仪器无缝支持多种 AFM 模式,展示了其在各种应用中的适应性。使用 Park NX20,研究人员可以自信地探索和深入研究他们的科学问题,受益于这一多功能且可靠的工具,提升工作精度和效率。

灵活的开放访问,可定制以适应各种研究环境

Park NX20 提供多种选项和配件,使用户能够轻松调整设置以适应其独特的研究环境:优化的热和化学特性选项等。

Applications

Perfect for Diverse Applications